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技術文章

賽默飛掃描電鏡的功能特點,快來了解一下吧!

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  賽默飛掃描電鏡結合了全面的成像性能和*的環(huán)境模式,同時兼容廣泛的硬件和軟件選型,可滿足多用戶實驗室的綜合應用需求。支持掃描預設、便捷的相機導航更進一步提升了生產力、數據質量和易用性。多種檢測器選項的定向背散射探測器、STEM、陰極熒光探測器等功能,探測器信號同步采集和顯示,可以在最短的時間內提供答案。此外,ESEM可以在現實條件下對樣品進行原位研究,例如在濕潤、高溫、潮濕或反應性環(huán)境中的樣品觀察
 
  賽默飛掃描電鏡有三種真空模式,使得系統(tǒng)靈活性*,可以容納任何SEM可用的*泛的樣品類型,包括放氣的、未鍍導電膜的或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。它同時支持相對的雙能譜(EDS)探測器、共面能譜(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)和平行束波譜(WDS)探測器。分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結構分析需求。
 
  賽默飛掃描電鏡具有幾下幾個特點:
 
  1.在自然狀態(tài)下對材料進行原位研究:在各種操作模式下分析導電和不導電樣品,同步獲取二次電子像和背散射電子像。
 
  2.大程度縮短樣品制備時間:低真空和環(huán)境真空技術可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無荷電累積。
 
  3.觀察所有樣品獲取全面的信息,在每種操作模式下均可同時進行SE和BSE成像。
 
  4.優(yōu)益的不導電樣品分析功能:借助多級穿過透鏡的真空系統(tǒng),實現低真空下的高質量EDS和EBSD分析。
 
  5.高精度優(yōu)中心樣品臺,可多方位觀察樣品。
 
  6.軟件直觀、簡便易用,配置用戶向導及撤銷功能,新手用戶可進行高效操作,專家用戶也可進行更少的操作,完成快速分析。

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