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- CleanMill氬離子研磨系統(tǒng)
CleanMill氬離子研磨系統(tǒng)為電池樣品SEM表征提供高質(zhì)量的制樣方案,傳統(tǒng)的機(jī)械研磨方式制備樣品斷面,斷面不可避免的存在機(jī)械損傷和磨料嵌入樣品引起的污染。使用氬離子束切割樣品制備,可以制備出沒(méi)有機(jī)械損傷和表面污染的平整斷面,非常適用于 制備電池材料和部件的斷面樣品,從而進(jìn)行掃 描電子顯微鏡結(jié)構(gòu)表征分析。
- 訪(fǎng)問(wèn)量:2651
- 更新日期:2023-03-20 ¥面議
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- ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣
ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣, 為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統(tǒng)而設(shè)計(jì)的撞擊式冷凍制樣設(shè)備,提供了樣品載體和樣品載臺(tái),它們可以放置在 ALTO 2500 冷凍工作站或ALTO 1000 的液氮泥加工站中*。
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- 更新日期:2023-03-20 ¥面議
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- Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697
Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697,可利用IlionII進(jìn)行拋光加工的材料種類(lèi)十分廣泛,包括由多元素組成的試樣,以及具有不同的機(jī)械硬度、尺寸和物理特性的合金、半導(dǎo)體材料、聚合物和礦物等。
- 訪(fǎng)問(wèn)量:3400
- 更新日期:2023-03-20 ¥面議
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- SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀
SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀,去除碳?xì)浠衔飳?duì)TEM和SEM樣品臺(tái)或樣品的污染,*的清洗解決方案,它利用等離子配方,對(duì)于所有的樣品,包括Holey碳膜,都具有更快更*的清洗效果。
- 訪(fǎng)問(wèn)量:3226
- 更新日期:2023-03-20 ¥面議
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- BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀
BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀,針對(duì)SEM/TEM開(kāi)發(fā)出的產(chǎn)品,它可以對(duì)不導(dǎo)電樣品進(jìn)行噴鍍,使導(dǎo)電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進(jìn)行觀測(cè)。
- 訪(fǎng)問(wèn)量:2607
- 更新日期:2023-03-20 ¥面議