透射掃描電子顯微鏡是一種利用電子束在樣品上掃描，通過(guò)接收透射電子信號(hào)或二次電子信號(hào)來(lái)成像的電子顯微鏡。其主要應(yīng)用領(lǐng)域包括：
 

　　1、材料科學(xué)：透射掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用非常廣泛，包括納米材料的形貌和結(jié)構(gòu)分析，如納米顆粒、納米線(xiàn)、納米膜等；材料的微觀結(jié)構(gòu)研究，如晶體缺陷、相變、晶界等；以及材料的性能研究，如力學(xué)性能、電學(xué)性能、磁性能等。
 

　　2、生物學(xué)：在生物學(xué)中的應(yīng)用主要包括細(xì)胞和組織的超微結(jié)構(gòu)研究，如細(xì)胞膜、細(xì)胞器、病毒等；生物大分子的結(jié)構(gòu)研究，如蛋白質(zhì)、核酸、多糖等；以及生物過(guò)程的研究，如細(xì)胞分裂、細(xì)胞凋亡、細(xì)胞遷移等。
 

　　3、化學(xué)：在化學(xué)中的應(yīng)用主要包括催化劑的結(jié)構(gòu)和性能研究，如催化劑的活性位點(diǎn)、催化反應(yīng)機(jī)理等；化學(xué)反應(yīng)的過(guò)程研究，如反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、反應(yīng)路徑等；以及化學(xué)產(chǎn)品的質(zhì)量控制，如顆粒大小、形狀、分布等。
 

　　4、地球科學(xué)：透射掃描電子顯微鏡在地球科學(xué)中的應(yīng)用主要包括礦物的結(jié)構(gòu)和成分研究，如礦物的形成條件、礦物的演化過(guò)程等；巖石的微觀結(jié)構(gòu)研究，如巖石的成因、巖石的變形等；以及地質(zhì)過(guò)程的研究，如地殼運(yùn)動(dòng)、地質(zhì)災(zāi)害等。
 

　　5、物理學(xué)：在物理學(xué)中的應(yīng)用主要包括凝聚態(tài)物理的研究，如超導(dǎo)體、半導(dǎo)體、磁性材料等；量子物理的研究，如量子點(diǎn)、量子線(xiàn)、量子阱等；以及光學(xué)物理的研究，如光子晶體、光纖、光波導(dǎo)等。
 

　　6、工程：在工程中的應(yīng)用主要包括新材料的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用，如高強(qiáng)度材料、高溫超導(dǎo)材料、新型能源材料等；新工藝的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用，如納米加工、激光加工、離子束加工等；以及新設(shè)備的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用，如微電機(jī)、微傳感器、微流體器件等。
 

　　總的來(lái)說(shuō)，透射掃描電子顯微鏡的應(yīng)用幾乎涵蓋了所有的自然科學(xué)和工程技術(shù)領(lǐng)域，是一種非常重要的科學(xué)研究和技術(shù)開(kāi)發(fā)工具。