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2021

12-6

賽默飛電子顯微鏡引入全新的能譜分析概念，采用*方法進(jìn)行樣品成分信息的采集、處理和展示。傳統(tǒng)能譜會利用二次電子或背散射電子信息，卻不利用其圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，因而數(shù)據(jù)獲取速度較慢，而且圖像分辨率相對粗糙。相比而言，賽默飛顯微鏡采集數(shù)據(jù)所用的是同一掃描發(fā)生器，將掃描電鏡圖像與能譜圖像對中，因而圖像更加銳利，圖像噪音更少。此外，脈沖處理采用自適應(yīng)脈沖整形技術(shù)，確保各種條件下均能獲得可靠數(shù)據(jù)。元素分布圖通過定量算法形成，因此，所顯示的成分?jǐn)?shù)據(jù)可靠，且結(jié)果中不會出現(xiàn)重疊峰誤判等。專有的陰...

2021

12-3

掃描電鏡顯微鏡在不同行業(yè)中的應(yīng)用

由于掃描電鏡顯微鏡的高分辨率和大焦深，使得它可以對各種化學(xué)物質(zhì)進(jìn)行非常詳細(xì)的分析。它打破了傳統(tǒng)臺式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性，利用創(chuàng)新的雙聚光鏡成像技術(shù)，采用大型掃描電鏡成像方式，使用二次電子探測器作為基礎(chǔ)成像單元，從而，可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺式掃描電鏡。在檢查半導(dǎo)體和微電子器件時，需要靈活選擇和使用操作參數(shù)(加速電壓、樣品傾斜、掃描線時間等)以及正確的分析程序，以獲得最大的信息。QFN器件中由濕熱環(huán)境(如吸濕)引起的界面裂紋很常見，會導(dǎo)致器...

2021

11-12

看看這些內(nèi)容，這是你想了解的STEM透射電鏡嗎？

STEM透射電鏡是怎么來的？掃描電子顯微鏡已成為表征物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)*的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質(zhì)發(fā)生相互作用，可產(chǎn)生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關(guān)物質(zhì)表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結(jié)構(gòu)信息，特征X-射線得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息，這些得到的都是接近樣品表面的信息。在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時，會有一部分電子透過樣品，這一部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。STEM...

2021

11-9

什么行業(yè)可以使用環(huán)境掃描電鏡？它能在你的行業(yè)中使用嗎？

環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)，試樣制備簡單。它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。環(huán)境掃描電鏡的應(yīng)用范圍：1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析。2、各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定量檢測。3、粉末、微粒、納...

2021

11-5

聚焦離子束電鏡究竟有何不同？

隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束(FIB)技術(shù)利用高強度聚焦離子束對材料進(jìn)行納米加工，配合聚焦離子束電鏡等高倍數(shù)電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路修改、切割和故障分析等。典型的聚焦離子束電鏡包括液態(tài)金屬離子源及離子引出極、預(yù)聚焦極、聚焦極所用的高壓電源、電對中、消像散電子透鏡、掃描線圈、二次粒子檢測器、可移動的樣品基座...

2021

11-2

一文帶你認(rèn)識球差電鏡！

球差電鏡，什么是球差？球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差(球差、像散、彗形像差和色差)的存在，無論是光學(xué)透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統(tǒng)都無法做到。光學(xué)透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到一個焦點的缺點，可對于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。球差電鏡，球差是由什么產(chǎn)生的？TEM中包含多個磁透鏡：聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等。球差是由...

2021

10-21

高分辨率掃描電鏡的檢測范圍和基本構(gòu)造

高分辨率掃描電鏡是電子顯微鏡的一種，其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀察，同時利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析，是我們材料研究分析中一雙亮麗的“眼睛”。掃描電鏡按照電子槍分類可以分為鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場發(fā)射三種，場發(fā)射掃描電鏡相比于鎢燈絲、六硼化鑭，具有電子束斑小、高分辨率、穩(wěn)定性好等特點。高分辨率掃描電鏡的檢測范圍：1.金屬、陶瓷、高分子、礦物、半導(dǎo)體、紙張、化工產(chǎn)品的顯微形貌觀察及...

2021

10-18

PFIB顯微鏡的小知識，快來學(xué)習(xí)一下！

PFIB顯微鏡是一款雙束電鏡，它可以簡單理解為單束聚焦離子束系統(tǒng)與普通SEM的耦合。單束聚焦離子束系統(tǒng)由離子源、離子光學(xué)柱、束描畫系統(tǒng)、信號采集系統(tǒng)和樣品臺五個部分構(gòu)成。離子源設(shè)置在離子束鏡筒的頂端，在其上加較強的電場可以抽取出帶正電荷的離子，這些離子通過靜電透鏡及偏轉(zhuǎn)裝置的聚焦和偏轉(zhuǎn)來實現(xiàn)對樣品的可控掃描。樣品加工是通過將加速的離子轟擊樣品使其表面原子發(fā)生濺射來實現(xiàn)，同時產(chǎn)生的二次電子和二次離子被相應(yīng)的探測器收集并用于成像。為了避免離子束受周圍氣體分子的影響，與掃描電鏡類似...

2021

10-14

環(huán)掃電鏡常見分類和應(yīng)用領(lǐng)域

環(huán)掃電鏡是一種掃描電子顯微鏡，利用聚焦電子束掃描樣品的表面來產(chǎn)生樣品表面的圖像。最常見的掃描電鏡模式是檢測由電子束激發(fā)的原子發(fā)射的二次電子?？梢詸z測的二次電子的數(shù)量，取決于樣品測繪學(xué)形貌。環(huán)掃電鏡常見分類：1.分析掃描電鏡:掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS后發(fā)展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進(jìn)行定性和無標(biāo)樣定量分析。2.場發(fā)射槍掃描電鏡：場發(fā)射掃描電鏡得到了很大的發(fā)展，不僅提高了常規(guī)加速電壓時的分辨本領(lǐng)，還顯著改善了低壓性能。3.低壓掃描電鏡...

2021

10-11

環(huán)境掃描電子顯微鏡的工作原理和儀器特點

環(huán)境掃描電子顯微鏡工作原理：電子與樣品中的原子相互作用，產(chǎn)生包含關(guān)于樣品的表面測繪學(xué)形貌和組成的信息的各種信號。電子束通常以光柵掃描圖案掃描，并且光束的位置與檢測到的信號組合以產(chǎn)生圖像。掃描電子顯微鏡由電子槍發(fā)射出電子束，在加速電壓的作用下經(jīng)過磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號電子。這些信號電子經(jīng)探測器收集并轉(zhuǎn)換為光子，再經(jīng)過電信號放大器加以放大處理，成像在顯示系統(tǒng)上。環(huán)...

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