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2024

8-8

環(huán)境真空掃描電鏡是一種能夠在高真空以外的環(huán)境中對樣品進行成像的掃描電鏡。這種電鏡能夠觀察和分析在傳統(tǒng)高真空條件下無法觀察的樣品，如非導(dǎo)電材料、含水樣品等。以下是環(huán)境真空掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用：1、非導(dǎo)電材料的觀察：傳統(tǒng)的掃描電鏡需要樣品具有導(dǎo)電性，以便于電子束能夠順利掃描樣品表面。然而，許多重要的材料如塑料、陶瓷、聚合物和復(fù)合材料等都是非導(dǎo)電的。它能夠在低真空或甚至濕潤的條件下工作，使得這些非導(dǎo)電材料可以直接觀察，無需經(jīng)過導(dǎo)電涂層的處理。2、含水樣品的分析：在生物、化學(xué)和...

2024

7-31

鎢燈絲掃描電鏡的工作流程

鎢燈絲掃描電鏡可用于納米材料、復(fù)合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導(dǎo)體與非導(dǎo)體地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。鎢燈絲掃描電鏡通過對電子槍內(nèi)的鎢燈絲加高電壓，使電子槍處于熱激發(fā)狀態(tài)，在陽極作用下，處于熱激發(fā)的電子槍就可以激發(fā)出電子束。經(jīng)過掃描線圈磁場的控制，電子束在樣品表面逐點掃描，激發(fā)出二次電子、背散射電子等物理信號，經(jīng)探測器收集、放大器放大后，調(diào)制得圖像。鎢燈絲掃描電鏡適合大量的常規(guī)檢測。鎢燈絲掃描電鏡的分辨率通常較高，...

2024

7-18

掃描電鏡（SEM）操作指南：如何獲得高質(zhì)量的圖片

如何評價SEM圖片的質(zhì)量？這是一個頗為復(fù)雜的問題，涉及到主觀因素。SEM圖的解讀需要觀察者根據(jù)自己的經(jīng)驗和知識進行分析和判斷，其中觀察者的主觀偏見或期望可能會影響對圖像的解讀，比如刻意避開不理想的區(qū)域，選擇局部OK區(qū)域來代表自己的預(yù)期。如果忽略主觀因素，那怎么才算一張高質(zhì)量的SEM照片呢？從視覺感受出發(fā)：1.要具備高分辨能力，能夠清晰地顯示樣品的細(xì)節(jié)和顯微結(jié)構(gòu)，邊界銳利，不模糊。2.襯度適中，突出樣品的特征，使不同部分易于區(qū)分。3.低噪聲，具有足夠的信噪比，實現(xiàn)圖像細(xì)節(jié)的高清...

2024

7-13

透射掃描電子顯微鏡的主要應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？

透射掃描電子顯微鏡是一種利用電子束在樣品上掃描，通過接收透射電子信號或二次電子信號來成像的電子顯微鏡。其主要應(yīng)用領(lǐng)域包括：1、材料科學(xué)：透射掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用非常廣泛，包括納米材料的形貌和結(jié)構(gòu)分析，如納米顆粒、納米線、納米膜等；材料的微觀結(jié)構(gòu)研究，如晶體缺陷、相變、晶界等；以及材料的性能研究，如力學(xué)性能、電學(xué)性能、磁性能等。2、生物學(xué)：在生物學(xué)中的應(yīng)用主要包括細(xì)胞和組織的超微結(jié)構(gòu)研究，如細(xì)胞膜、細(xì)胞器、病毒等；生物大分子的結(jié)構(gòu)研究，如蛋白質(zhì)、核酸、多糖等；以及生...

2024

7-11

如何獲取導(dǎo)電不良樣品的高質(zhì)量SEM圖

掃描電鏡的使用者都不愿意遇到的一大類試樣就是導(dǎo)電不良的樣品，比如聚合物薄膜、玻璃、陶瓷等，由于這些試樣電導(dǎo)率都較低，尤其是玻璃，甚至低于10-10S/m，由此帶來的荷電效應(yīng)問題，使得我們想要得到一張高質(zhì)量的SEM圖難度較大，今天我們就來聊一聊如何解決此類問題。首先，進入大部分用戶腦海的肯定是“鍍金”一詞，即采用離子濺射儀在試樣表面鍍上一層薄薄的金屬膜，改善導(dǎo)電性，但其中的問題是Pt/Au顆粒尺寸一般是納米級，如Pt顆粒尺寸一般是2~3nm，但是由于真空度的影響，在較低的真空下...

2024

7-10

場發(fā)射電鏡在半導(dǎo)體工業(yè)中的應(yīng)用有哪些？

場發(fā)射電鏡是一種利用場發(fā)射電子槍產(chǎn)生高亮度、細(xì)聚焦的電子束來掃描樣品表面，并通過檢測從樣品表面散射出來的電子信號來獲取高分辨率圖像的顯微鏡。在半導(dǎo)體工業(yè)中，場發(fā)射電鏡的應(yīng)用非常廣泛，主要包括以下幾個方面：1、缺陷分析：它可以用于觀察半導(dǎo)體材料和器件中的微觀缺陷，如晶格缺陷、位錯、層錯等。這些缺陷可能會影響半導(dǎo)體器件的性能和可靠性，因此對其進行精確分析至關(guān)重要。2、納米結(jié)構(gòu)表征：隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，納米尺度的結(jié)構(gòu)越來越多地被應(yīng)用于器件制造中。也能夠提供納米級別的高分辨率圖像，...

2024

7-7

FIB雙束電鏡的真空系統(tǒng)是如何工作的？

FIB雙束電鏡是利用電磁透鏡將離子束聚焦成非常小的點，然后用這個點在樣品上進行掃描，通過檢測二次電子或背散射電子信號來獲取樣品表面信息的設(shè)備。常用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、生命科學(xué)等領(lǐng)域中的微觀分析、刻蝕和沉積等操作。FIB雙束電鏡的真空系統(tǒng)對于其正常運作至關(guān)重要，因為高真空環(huán)境可以保證離子束和電子束不會與氣體分子發(fā)生相互作用，從而避免束流散射和能量損失，確保成像和加工的精確性。下面是FIB雙束電鏡真空系統(tǒng)的一般工作原理：1、初級泵抽：啟動時，首先會使用機械泵或旋片泵進行初級抽...

2024

7-4

sem掃描電鏡用于哪些科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域的研究？

sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過收集二次電子、背散射電子等信號來獲取樣品表面形貌和成分信息的顯微鏡。sem掃描電鏡具有高分辨率、大景深、簡便的樣品制備等優(yōu)點，因此在許多科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。1、材料科學(xué)：在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛，包括金屬材料、陶瓷材料、高分子材料、復(fù)合材料等。通過使用，可以觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、相分布、缺陷等，從而為材料的性能優(yōu)化和新材料的設(shè)計提供重要信息。2、冶金學(xué)：在冶金學(xué)領(lǐng)域主要用于研究金屬和合金的微觀結(jié)構(gòu)、相變、...

2024

6-29

聚焦離子束電鏡可以用于哪些場合？

聚焦離子束電鏡是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號取得電子像。具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效等特點。具有特殊的樣品制備和三維成像能力，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。聚焦離子束電鏡的主要應(yīng)用：1.定點剖面形貌和成分表征：通過精確控制離子束的位置和能量，可以實現(xiàn)對樣品特定區(qū)域的精確切割和分析。2.TEM樣品的制備：該產(chǎn)品是制備超薄樣品截面的理想選擇，為透射電子顯微鏡(TEM)分析提供高質(zhì)量的樣品。3.微納結(jié)構(gòu)的處...

2024

6-16

場發(fā)射掃描電鏡在環(huán)境科學(xué)研究中的應(yīng)用

場發(fā)射掃描電鏡是一種使用場發(fā)射電子源的高性能掃描電鏡。它具有高分辨率和深景深的優(yōu)點，能夠提供納米級別的表面形貌和成分信息。在環(huán)境科學(xué)研究中，場發(fā)射掃描電鏡的應(yīng)用非常廣泛，以下是一些主要的應(yīng)用場景：1、顆粒物分析：它可以用于分析空氣或水中的顆粒物，如灰塵、煙霧、泥沙等。通過觀察顆粒物的形貌、大小和聚集狀態(tài)，可以研究其來源、傳輸和沉積過程，從而為污染控制和治理提供依據(jù)。2、污染物分析：也可以用于檢測和分析環(huán)境中的污染物，如重金屬、有機污染物等。通過結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS)...

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